梅志慧1，张腾2
（1.上海科学技术职业学院，上海 201800； 2.零束科技有限公司，上海 201800）
摘要：为了在产品设计研发阶段精确仿真预判LPDDR4信号传输过程中潜在的电磁辐射问题，探讨了影响仿真精度的关键设计影响因素及其优化策略.并依托实验数据进行对比，构建了仿真与测试的闭环.研究通过CST软件进行的高精度辐射发射仿真，有效预测并优化了LPDDR4系统的电磁兼容性能，增强了电子产品的可靠性和稳定性，同时大幅削减了产品的开发与验证成本，对电子产品实现降本增效具有参考意义.
关键词：辐射发射；LPDDR4；CST；仿真；测试
中图分类号 ：TN602
文献标识码：A
文章编号:1673-2103（2025）05- 0065-11
收稿日期：2025-08-11
基金项目：上海科学技术职业学院校级教科研项目（2025B03）
作者简介：梅志慧（1989—），女，安徽池州人，讲师，硕士，研究方向：工业互联网与智能控制， E-mail: meizishu@163.com.
